YAMAHA 3D AOI,光学检查机，

YSi-V
1台设备可同时配备2维检查、3维检查、4方向倾斜图像检查功能，检查能力较以往提高2倍以上
2D 高速、高分辨率2维检查
3D 高度、倾斜面3维检查(选配)
4D 4方向斜视相机(选配)

YSi-V


便于在现场发现、判断问题的新型可视化工具 QA Option


 

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基本规格














YSi-V



对象基板
L610×W560（较大） ～ L50×W50（较小）（单轨机型）
※支持L750mm**长基板（选配） 

相机像素
1200万画素 500万像素 

类型

12M TypeHS2

12M TypeS

12M TypeDF

5M


分辨率
12µm 7µm 12µm 7µm 12µm 18µm 

检查对象
刚贴装后的元件状态、固化后的锡膏及元件的状态 

电源规格
3相 200/208/220/230/240/400/416V ±10% 50/60Hz 

供给气源
0.4MPa以上、清洁干燥状态 

外形尺寸(突起部除外)
L1,252mm×W1,498mm×H1,550mm 

主体重量
约 1,300kg 

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规格、外观如有变动，恕不另行通知。